BeamR2狭缝扫描式光束质量分析仪
产品说明 产品型号：BeamR2 产品ID：S-BR2-Si 品牌名称：美国Dataray BeamR2狭缝扫描式光束质量分析仪提供高分辨率，但是要求光束小于1μm并且价格要高于相机型光束分析仪。BeamR2狭缝扫描式光束质量分析仪尽管不能给出光束图像，但是在很多情况下XY或XYZ就可以满足应用要求。 产品特点： · 190至1150 nm，Si探测器 · 650至1800 nm，InGaAs探测器 · 1000至2300或2500 nm，InGaAs（扩展）探测器 ·端口供电，USB2.0，灵活的3米电缆，没有电源砖 · 0.1μm采样和分辨率 · 线性和对数X-Y轮廓 · 轮廓缩放和狭缝宽度补偿 · 经济又准确 · M2选项 – 光束传播分析、发散、聚焦 产品选择： Beam’R2 BeamMap2 主要特征 集成X和Y轮廓 实时XYZθΦ 测量和焦点查找 实时指向、发散和M2测量 接口 USB 2.0 Port-powered CW or Pulsed? CW，脉冲最小 PRR（Si 探测器）≈ [500/（激光直径μm）] kHz 波长 Si:190-1150 nm InGaAs:650-1800 nm Si+InGaAs:190-1800nm Si+InGaAs,extended:190-2500nm X-Y-Z Profiles, plus Θ-Φ N/A 分辨率 0.1 μm 最小光束 2 μm (Knife Edge mode) 更新率 5 Hz real-time (adjustable 2-10 Hz) M2测量 Yes - with M2DU-BR accessory Yes - real-time 定位焦点 Yes - with M2DU-BR accessory Yes - real-time 指向/发散 Yes - with M2DU-BR accessory Yes - real-time 开关增益（选项dB） 32 dB 参数 参数值 BeamMap2 BeamR2 Comments 波长可选范围（nm） 190-1150, 650-1800, 190-1800, 190-2500 Yes Yes Si, InGaAs, Si + InGaAs, 被扫描光束直径 2 μm to 4 mm (2 mm for IGA-X.X) Yes Yes Si + InGaAs, extended X-Y 轮廓及中心分辨率： 0.1 μm 或者 0.05% 的扫描范围 Yes Yes 精度: ±<2% ± ≤0.5μm Yes Yes CW or Pulsed 连续/脉冲 最小PRR ≈ [500/(激光直径μm)]kHz Yes Yes 光束对准准直 ± 1 mrad with BeamMap2 ColliMate Yes - M2 测量 1 to >20, ± 5% Yes - Beam Dependent 实时更新 5 Hz Yes Yes 4 Z-plane hyperbolic fit 功率＆辐照度 1 W Total 0.3 mW/μm2 Yes Yes Adjustable 2-12 Hz 增益范围： 32dB Yes Yes Metallic film on Sapphire slits
