Zetasizer Helix 纳米粒度仪
产品介绍概述： 该系统保留了 Zetasizer Nano ZSP 的所有功能，同时还添加了拉曼光谱仪，用以确定蛋白质以及基于蛋白质的生物制药品的二级和结构。由单一仪器平台提供的大量表征数据有助于理解相关信息，从而实现更高效的药物开发流程、缩短上市销售时间并提高药物产品的质量。而且，Zetasizer Nano ZSP具有的超高性能还可进行高分子分子量与第二维里系数，A2以及kD，DLS相互作用参数的测量。 凭借功能强大的软件，从非专家人员处也可获得信息，软件可绘制并拟合预设参数的趋势曲线，无需专业知识便可实现。 在不影响分析功能的同时，先进的处理模式提供了从数据预处理到多变量分析的一整套应用工具。 因此，可通过使用本款仪器来实现应用方法的开发。 ·使用或不使用最低稀释倍数时的研究方法 ·了解聚合反应与低聚反应机制 ·确定对质量至关重要的产品属性 ·“Expertise Optional” 数据分析软件提供趋势结果，无需专家级决策 ·先进的数据分析工具包括了从预处理到多变量分析的一整套光谱分析工具。 ·温度斜坡数据可以让我们了解产品的稳定性和聚合反应机制 ·等温培养数据让动力学与可逆性研究成为可能 ·样本系列可用于调查导致批间差异的原因 ·蛋白质二级和结构的深入分析
工作原理： 集拉曼光谱仪(表征蛋白质二级和结构)与动态光散射仪(表征粒度)于一体，Zetasizer Helix 可对以下机制进行区分： ·与 2e 和/或 3e 结构变化同时发生的低聚物形成 ·无 2e 和/或 3e 结构变化的低聚物形成 ·未产生聚合反应的蛋白质去折叠 ·去折叠/结构变化导致的聚合反应 ·无去折叠/结构变化的聚合反应 由于拉曼光谱提供的详细信息十分丰富，将上述(关于结构和聚合反应)过程与特定的蛋白质基团及其环境相互关联已成为可能。 可对单个产品提供此类信息，也可将该信息用于比对不同产品和/或不同批次的属性。 本系统极具灵活性，可采用各类样本压力源、研究各类效应。 可获得的数据收集选项和结果： ·动力学 / 等温培养 / 温度跃变 ·测定低聚反应和/或聚合反应事件的动力学 ·研究这些过程中大小变化与结构变化的可逆性 ·热力学 / 温度斜坡 ·测定热力学属性 ·起始温度、溶解温度 ·跃迁焓/协调性 ·比对样本的相对稳定性 ·从机制上了解低聚反应与聚合反应事件 ·样本系列 ·评估摄动对整个系列样本的影响 ·比对不同批次的稳定性和分子结构，或作为稳定性测试的一项功能， ·摄动而非温度 (pH、变性剂等) 软件 数据收集与数据分析分别处理，可呈现界定清晰的工作流程。 数据收集由 ZSHelixAcquire 控制，可提供“向导类型”界面，通过实验设置对用户进行指导。该界面在 Zetasizer 软件内启动。 经常使用的设置将保存为“实验”(方法)，可进行加载和重复使用，从而方便使用并保证实验条件的再现性。 ZS HelixAnalyze 是一个功能强大且易于使用的数据分析平台。默认的 “Expertise Optional” 模式将数据预处理、处理和趋势分析集成于单一的自动序列中，无需“专家”决策便可完成。在不影响分析功能的同时，先进的处理模式提供了从数据预处理到多变量分析的一整套光谱工具。 将仪器用于创新性和非预期用途已不再受到限制，从而使应用方法的开发成为可能，即使是用于未经确认的应用，也能确保系统的应用价值。
技术指标： 常规 动态光散射光源 : He-Ne 激光器 633nm，最大 5mW 拉曼光源 : 二极管激光器 785nm，样本上最大 280mW 激光安全 : 1类 电源功率 : < 100VA (DLS) <300VA，典型工作输出 ~135VA (拉曼) 尺寸 (宽, 长, 高) : 320 × 600 × 375mm (Zetasizer) 580 × 450 × 200mm(拉曼) 重量 : 19kg + 侧扫声纳 (Zetasizer) 28kg(拉曼) 拉曼光谱仪 结构和化学分析 : 拉曼光谱 拉曼光谱仪 : Kaiser Optical Systems Inc. RamanRxn1 光谱性能 : 150 cm-1 至 1850 cm-1, 6 cm-1 分辨率 样品光斑尺寸 :<300 µm 蛋白质二级和结构标志物 : 主链 – α-螺旋、ß-折叠和无规卷曲含量 酪氨酸 – 氢键合程度，亲水或疏水环境 色氨酸 – 吲哚环与主链的双面角，阳离子-π相互作用的程度，吲哚环是否遮盖或暴露，亲水或疏水环境 二硫化物 – 区分构象， 共价键丢失 数据收集模式 : 等温培养、温度斜坡、温度跃变、样本/方法系列 注解(N) 专利 : Zetasizer Nano 系列产品受以下专利保护： 非侵入背散射 (NIBS)EP884580，US6016195，JP11051843 高频和低频电泳 (M3)EP1154266，US7217350，JP04727064 使用同时检测的光散射测量EP2235501，CN102066901，JP2011523451，US20090251696 插入式样品池表面电位测定WO2012172330 Zetasizer Helix 受专利申请 WO2013027034 A1 保护
