Winner99E静态颗粒图像仪
产品介绍产品简介：
Winner99E是用于颗粒大小分布与颗粒形貌分析的专用仪器。该仪器通过精心设计的光学显微镜和专业级的摄像头获取颗粒信息；使用计算机图像分析技术进行分析处理，从而测定颗粒大小分布与颗粒形貌特征。本仪器具有操作方便、图像清晰、测量直观，分辨率高达0.1微米/象素，测试范围广的突出特点，可广泛适用于大专院校、研究院所以及大中型企业的新产品研究开发、工艺控制和质量检验。适用于水泥、陶瓷、药品、涂料、颜料、化工产品、钻井泥浆、农药、石墨、金属与非金属粉末、碳酸钙及粉状物料。
Winner99E是我公司Winner99C与winner99D产品的升级版本，采用拥有更高分辨率的高速CMOS摄像头和全新的自动分析算法，提高了自动分析的准确率，并可以自由生成彩色和二值化的粒度分析报告。同时该仪器增加了边界检测和均衡化两种手动二值化算法，大幅降低了动态二值化的误差和复杂度，提高了分析的准确性。
该仪器采用了最新的高速CMOS摄像头，拥有高达2048x1536的分辨率，同时具有超高清晰度和超高信噪比及转换精度等优点。
适用范围：
Winner99E静态颗粒图像仪适用于水泥、陶瓷、药品、涂料、染料、颜料、填料、化工产品、催化剂、煤粉、泥砂、粉尘、面粉、食品、添加剂、农药、、石墨、感光材料、燃料、金属与非金属粉末、碳酸钙、高岭土及其他粉体行业。
技术参数：
规格型号
Winner99E
执行标准
ISO13322-1: 2004; GB/T21649.1-2008
显微系统
物镜
4X、10X、40X、60X、100X（油）长距消色差（平场）物镜组
目镜
1X、10X、16X 大视野摄像目镜
载物台
手动三维机械式载物台，尺寸：185mm×140mm，
移动范围：50mm×75mm，粗微同轴调焦，
微动格值：2μm,带锁紧和限位装置
光源
底部透射光源，6V 20W卤素灯,亮度可调。可选顶部金相落射式光源（带起偏振器）
总放大倍数
4倍——1600倍
摄像系统
最高分辨率
2048×1536
像素尺寸
3.2μm×3.2μm
成像元件
1/1.8英寸 progress scan CMOS
帧率
6fps@2048×1536 / 10fps@1600×1200 / 15fps@1280×1024 / 30fps@640×480
最高清晰度
900线
信噪比
小于42dB
敏感度
1.0V@550nm/lux/S
输出方式
USB2.0
实际观测范围
1-6000μm
软件功能
静态采集
将样品形貌拍摄为高清晰JPG图片
图片处理
使用多种画图工具对图片进行比较简单的处理
图像拼接
将多幅图片进行无缝拼接,在颗粒测试中能够获得更多的颗粒数量以提高测试的代表性。同时也可单张分析保存后再进行拼接，进一步提高了结果的准确性。
颗粒的自动处理工具集
自动消除颗粒粘连、自动消除杂点、自动消除边界不完整颗粒、自动填补颗粒的空心区域、自动平滑颗粒边缘等12项自动处理工具。
比例尺标定
通过国家标准测微尺标定后，每次测试只须选择与物镜相对应的比例尺数值即可直接得到颗粒的实际大小数值。
单个颗粒数据
可在图片上直接对单个颗粒进行截面积、体积、长径比等10多项参数的分析。
任务管理机制
严格的任务管理机制，使用户能够将所有测试数据井井有条的管理起来。
报告输出
将测试结果输出为报告，并可以自由修改报告样式。
整体分布特征参数
D10、D50（中位径）、D90、D100等颗粒分布的特征参数
报告参数
整体频率分布累计分布
颗粒按数量、体积、面积等分布的频率分布与累计分布的数据表、曲线图、柱状图等。
统计平均径
Xnl、Xns、Xnv、Xls、Xlv、Xsv等常用的统计平均径
形状参数
长径比、庞大率、球型度、表面率、比表面积、外接矩形参数等表征颗粒形状的10多项常用数据
个数统计
直接得到所观测的颗粒数量
样品缩略图
可以将样品彩色或黑白（可选择）缩略图显示到报告中
表头输入
可以将样品名称、测试单位、分散介质等多项信息输入到报告表头中
产品特点和优势：
强大的分析功能
通过新增加的自动分析功能，以及更为简单强大的“均衡化”和“边界检测”等二值化方法，极大地提高了数据处理和分析能力。减少了用户操作的复杂性，提高了仪器便宜性和分辨率。
测试结果直观易懂
进行颗粒检测的同时还可观测样品的形貌，这能够使用户更全面的了解颗粒的形貌、状态、变化过程等信息。并且，对照直观的样品图片，可以帮助用户更好的理解报告中的数据含义。
图像拼接功能
将多幅图片进行无缝拼接,在颗粒测试中能够获得更多的颗粒数量以提高测试的代表性。同时也可单张分析保存后再进行拼接，进一步提高了结果的准确性。
颗粒的自动处理工具集
自动消除颗粒粘连、自动消除杂点、自动消除边界不完整颗粒、自动填补颗粒的空心区域、自动平滑颗粒边缘等12项自动处理工具。
